Le Cetim présent sur les salons Measurement World et CIM 2019
Le Cetim, institut technologique labellisé Carnot, participe au salon Measurement World et au congrès international de la métrologie CIM 2019. Sur le salon dédié à l’univers de la mesure européenne, le Cetim présentera sur son stand (G28) ses solutions en métrologie, notamment celles de Cetim Sud Ouest, ainsi que son offre en matière d'IoT.
A l’occasion du 19ème Congrès international de Métrologie (CIM2019) qui a lieu en parallèle Porte de Versailles, le Cetim interviendra lors de deux tables-rondes :
Jeudi 26 septembre de 9h00 à 11h00
Formations et métiers dans l'industrie 4.0
Les difficultés de recrutement de profils techniques sont aujourd’hui un frein majeur de la croissance des entreprises. Les profils de métrologues ne sont pas en reste. Les technologies et les machines évoluent plus rapidement que les hommes. Il s’agit de trouver des solutions pour transmettre les savoirs rapidement et efficacement.
- Comment former les futurs responsables métrologie ?
- Quelles compétences intégrer dans la métrologie ?
- Comment garder le lien avec les évolutions technologiques ?
Animation : M. Larquier - BEA Métrologie (France)
Avec : M. Barbier - Cetim / France, Mme Beaugrand - Trescal (France), M. Coorevits - Arts et Métiers Paris Tech, Mme Escoffier - Ariane Group (France), M. Gulka - NCSLi (USA), Mme Loftus - NPL (Royaume Uni), M. Marconnet - IUT Saint-Etienne
Jeudi 26 septembre de 13h45 à 15h45
Fabrication additive : les défis mesure et contrôle
La fabrication additive joue un rôle important dans des domaines industriels variés en permettant la réalisation de pièces inaccessibles avec les méthodes de fabrication classiques. Mais la complexité de ces pièces pose la question du contrôle de leurs formes. La tomographie assistée par ordinateur semble aujourd’hui être la solution la plus adaptée. Mais est-ce vraiment le cas ? Les métrologues ont peut-être leur mot à dire....
- La fabrication additive partout et dans tous les cas ?
- La tomographie assistée par ordinateur, seul moyen de mesure des objets «imprimés» ?
- Métrologie et tomographie assistée par ordinateur ?
Animateur : M. Barbier - Cetim
Avec : M. Gostiaux - Vallourec (France), Mme Leborgne - Cetim, M. Le Goupil - CEA Tech, M. Thibault - Carl Zeiss (France), M. Williams - Université de Cranfield (Royaume-Uni)
Information et inscription
